flying needle tester သည် fixture သို့မဟုတ် bracket တွင်တပ်ဆင်ထားသော pin pattern ပေါ်တွင်မမူတည်ပါ။ ဤစနစ်အပေါ်အခြေခံ၍ သေးငယ်သော၊ လွတ်လပ်သောရွေ့လျားနိုင်သောခေါင်းများကို xy လေယာဉ်ပေါ်တွင်တပ်ဆင်ထားပြီး စစ်ဆေးမှုအမှတ်များကို CADI မှ တိုက်ရိုက်ထိန်းချုပ်ထားသည်။ Gerber data.Dual probes များသည် တစ်ခုနှင့်တစ်ခုကြား 4 mil အတွင်း ရွေ့လျားနိုင်သည်။ probes များသည် အလိုအလျောက်ရွေ့လျားနိုင်ပြီး ၎င်းတို့သည် တစ်ခုနှင့်တစ်ခု မည်မျှနီးကပ်နိုင်သည်ဟူသော ကန့်သတ်ချက်မရှိပါ။ ဆားကစ်ဘုတ်အား capacitor အတွက် အခြားသတ္တုပြားတစ်ခုအဖြစ် ACTS ပြုလုပ်သည့် သတ္တုပြားတစ်ခုပေါ်တွင် insulating layer တွင် တင်းတင်းကျပ်ကျပ် ချထားပါသည်။ လိုင်းများကြားတွင် short circuit ရှိပါက၊ capacitance သည် သတ်မှတ်ထားသော point ထက် ပိုကြီးမည်ဖြစ်ပါသည်။ ကွဲသွားပါက၊ capacitance သည် သေးငယ်လိမ့်မည်။

စမ်းသပ်မှုအမြန်နှုန်းသည် စမ်းသပ်သူရွေးချယ်ရာတွင် အရေးကြီးသောစံနှုန်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ အပ်ကုတင်စမ်းသပ်သူသည် တစ်ကြိမ်လျှင် စမ်းသပ်မှုအမှတ်ထောင်ပေါင်းများစွာကို တိကျစွာစမ်းသပ်နိုင်သော်လည်း ပျံတက်သောအပ်စမ်းသပ်သူသည် တစ်ကြိမ်လျှင် စမ်းသပ်မှုအမှတ်နှစ်ခု သို့မဟုတ် လေးခုသာ စမ်းသပ်နိုင်သည်။ ထို့အပြင် တစ်ကြိမ်လျှင် စမ်းသပ်မှုတစ်ခု၊ ဘုတ်ပြား၏ ရှုပ်ထွေးမှုအပေါ်မူတည်၍ ပင်အပ်ကုတင်စမ်းသပ်သူသည် 20-305 သာ ကျသင့်မည်ဖြစ်ပြီး၊ ပျံတက်သောထိုးအပ်စမ်းသပ်သူသည် တူညီသောအကဲဖြတ်မှုကို အပြီးသတ်ရန် Ih သို့မဟုတ် ထို့ထက်ပို၍ လိုအပ်ပါသည်။ Shipley (1991) မှ ဤနည်းလမ်းသည် အထွက်နှုန်းနည်းသော ရှုပ်ထွေးသော ဆားကစ်ဘုတ်များကို ထုတ်လုပ်သူများအတွက် ရွေးချယ်မှုကောင်းတစ်ခုဖြစ်ကြောင်း ၊ ထုထည်မြင့်သော ပုံနှိပ်ဆားကစ်ဘုတ်များ ထုတ်လုပ်သူများသည် ရွေ့လျားပျံသန်းနေသော pin test နည်းပညာကို နှေးကွေးသည်ဟု ယူဆထားသော်လည်း၊

ဗလာပန်းကန်ပြားစမ်းသပ်ခြင်းအတွက်၊ သီးခြားစမ်းသပ်ကိရိယာများပါရှိသည် (Lea၊1990)။ စကြဝဠာတူရိယာကိုအသုံးပြုခြင်းသည် ကုန်ကျစရိတ်သက်သာသောနည်းလမ်းဖြစ်ပြီး အစပိုင်းတွင် သီးသန့်တူရိယာထက် ပို၍စျေးကြီးသော်လည်း ၎င်း၏ကနဦးမြင့်မားသောကုန်ကျစရိတ်ကို လျှော့ချခြင်းဖြင့် ထေမိမည်ဖြစ်သည်။ တစ်ဦးချင်းဖွဲ့စည်းမှုများအတွက် ကုန်ကျစရိတ်။ ယေဘူယျရည်ရွယ်ချက်အတွက်၊ ဘုတ်များနှင့် ပင်ဒြပ်စင်များပါရှိသော မျက်နှာပြင်တပ်ဆင်ကိရိယာများအတွက် စံဇယားကွက်သည် 2.5 မီလီမီတာဖြစ်သည်။ ဤအချိန်တွင် စမ်းသပ်ခုံသည် 1.3 မီလီမီတာထက် ပိုကြီးသင့်သည် သို့မဟုတ် တူညီသင့်သည်။

Imm grid အတွက်၊ test pad ကို 0.7mm ထက် ပိုကြီးစေရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားပါသည်။ grid သေးငယ်ပါက test pin သည် သေးငယ်သည်၊ ကြွပ်ဆတ်ပြီး ပျက်စီးနိုင်ချေရှိပါသည်။ ထို့ကြောင့်၊ 2.5mm.Crum ထက်ကြီးသော grid ကို အသုံးပြုခြင်းသည် အကောင်းဆုံးဖြစ်သည်။ (1994b) တွင် universal tester (standard grid tester) နှင့် flying needle tester တို့ကို ပေါင်းစပ်၍ high density circuit board ၏ ထောက်လှမ်းမှုကို တိကျပြီး ချွေတာနိုင်စေသည်ဟု ဖော်ပြထားပါသည်။ သူအကြံပြုထားသည့် နောက်ထပ်နည်းလမ်းမှာ conductive rubber tester ကို အသုံးပြုရန်၊ ဇယားကွက်မှ သွေဖည်သွားသော အမှတ်များ။သို့သော်၊ လေပူဖြင့် ချိန်ညှိခြင်း ဖြင့် ပြုလုပ်ထားသော မတူခြားနားသော အမြင့်များသည် စမ်းသပ်မှုမှတ်များ ဆက်သွယ်မှုကို အဟန့်အတား ဖြစ်စေပါသည်။
အောက်ဖော်ပြပါ အဆင့်သုံးဆင့်ကို ထောက်လှမ်းလေ့ရှိသည်-
1) ကိုယ်လုံးတီးပန်းကန် ထောက်လှမ်းခြင်း၊
2) အွန်လိုင်းရှာဖွေတွေ့ရှိမှု;
3) functional detection ။
ယေဘူယျ အမျိုးအစား စမ်းသပ်သူသည် စတိုင်တစ်မျိုးနှင့် ဆားကစ်ဘုတ် အမျိုးအစားကို ရှာဖွေနိုင်သည့်အပြင် အထူးအပလီကေးရှင်းများအတွက် အသုံးပြုနိုင်သည်။
အသုံးများသောသတ္တုအပေါ်ယံပိုင်းများမှာ-
ကြေးနီ
တင်သည်။

အထူသည် များသောအားဖြင့် ၅ မှ ၁၅ စင်တီမီတာကြားရှိသည်။
ခဲ-သွပ်အလွိုင်း (သို့မဟုတ် သံဖြူ-ကြေးနီသတ္တုစပ်)
ဆိုလိုသည်မှာ၊ အများအားဖြင့် 5 မီတာမှ 25 မီတာအထူရှိသော သံဖြူပါဝင်မှု 63% ရှိသော ဂဟေဆော်ခြင်း၊

ရွှေ: ယေဘုယျအားဖြင့် အင်တာဖေ့စ်ပေါ်တွင်သာ ချထားသည်။

ငွေ: ယေဘုယျအားဖြင့် အင်တာဖေ့စ်ပေါ်တွင်သာ ချထားမည် သို့မဟုတ် တစ်ခုလုံးသည် ငွေသတ္တုစပ်တစ်ခုဖြစ်သည်။