Flying Sonde Test

De fliegende Nadeltester hänkt net vun der Pinmuster of, déi op der Fixture oder der Klammer montéiert ass.Baséiert op dësem System sinn zwee oder méi Sonden op klengen, fräi bewegende Kappen am xy-Fliger montéiert, an d'Testpunkte ginn direkt vum CADI kontrolléiert. Gerber Donnéeën.Déi duebel Sonden kënnen sech bannent 4 mil vuneneen beweegen.D'Sonden kënnen sech automatesch bewegen, an et gëtt keng richteg Limit fir wéi no se beienee kommen.Den Tester mat zwee beweeglechen Äerm baséiert op Kapazitéitmiessungen.Den Circuit Board gëtt enk op eng Isoléierschicht op enger Metallplack geluecht, déi als aner Metallplack fir de Kondensator AKTUELL.Wann et e Kuerzschluss tëscht de Linnen ass, wäert d'Kapazitéit méi grouss sinn wéi op engem bestëmmte Punkt.Wann et eng Paus ass, d'Kapazitéit wäert méi kleng sinn.

Test Geschwindegkeet ass e wichtege Critère fir d'Auswiel vun engem Tester.Während den Nadelbett-Tester dausende vun Testpunkte gläichzäiteg präzis testen kann, kann de fléiennadeltester nëmmen zwee oder véier Testpunkte gläichzäiteg testen. Zousätzlech, en eenzegen Test mat en Nadelbett Tester kann nëmmen 20-305 kaschten, ofhängeg vun der Komplexitéit vum Board, wärend e fléien Nadeltester Ih oder méi erfuerdert fir déiselwecht Evaluatioun ze kompletéieren. Shipley (1991) erkläert datt dës Method e gudde Choix ass fir Hiersteller vu komplexe Circuitboards mat méi nidderegen Ausbezuelen, och wann d'Fabrikanten vu High-Volumen gedréckte Circuitboards d'Bewegung vun der Flying Pin Test Technik als lues betruechten.

Fir kaal Platen Testen ginn et speziell Testinstrumenter (Lea, 1990). Eng méi kosteneffektiv Approche wier en universellt Instrument ze benotzen, obwuel am Ufank méi deier wéi en dedizéierten Instrument, seng initial héich Käschte géifen duerch eng Reduktioun vun d'Käschte vun eenzelne Configuratioun.Fir allgemeng Zweck Gitter, d'Standardgitter fir Brieder an Surface Mount Ausrüstung mat Pin Elementer ass 2,5 mm. Op dësem Punkt soll den Testpad méi grouss wéi oder gläich wéi 1,3 mm sinn.

Fir den Imm Gitter ass den Testpad entwéckelt fir méi wéi 0,7 mm ze sinn. Wann d'Gitter kleng ass, ass den Testpin kleng, brécheg an ufälleg fir Schued. Dofir ass et am beschten Gitter méi grouss wéi 2,5 mm ze benotzen. Crum (1994b) huet festgehalen datt d'Kombinatioun vum universellen Tester (Standard Gitter Tester) a fléien Nadel Tester d'Detektioun vun héijer Dicht Circuit Board präzis a wiertschaftlech maachen kann. Eng aner Approche déi hie proposéiert ass e konduktiven Gummi Tester ze benotzen, dee benotzt ka ginn fir z'entdecken. Punkten, déi vum Raster ofwäichen.Allerdéngs wäerten verschidden Héichte vu Pads, déi mat waarme Loftnivellerung behandelt ginn, d'Verbindung vun Testpunkte behënneren.
Déi folgend dräi Niveaue vun der Detektioun ginn normalerweis duerchgefouert:
1) plakeg Plack Detektioun;
2) Online Detektioun;
3) funktionell Detektioun.
Den allgemenge Typ Tester kann benotzt ginn fir eng Aart vu Stil an Typ vu Circuitboard z'entdecken wéi och fir speziell Uwendungen.
Gemeinsam Metallbeschichtungen sinn:
Kupfer
Zinn

D'Dicke läit normalerweis tëscht 5 an 15 cm
Bläi-Zinnlegierung (oder Zinn-Kupferlegierung)
Dat heescht solder, normalerweis 5 bis 25 m déck, mat engem Zinngehalt vu ronn 63%

Gold: Allgemeng wäert nëmmen op der Interface plated ginn

Sëlwer: Allgemeng gëtt nëmmen op der Interface platéiert, oder dat Ganzt ass och eng Sëlwerlegierung